許多微孔材料（例如分子篩，活性炭等。）在進(jìn)行自由空間測量時(shí)，由于暴露在He 氣中幾個(gè)小時(shí)，會(huì)將He 捕捉并保存在它們復(fù)雜的孔結(jié)構(gòu)中，最終影響到分析低壓區(qū)數(shù)據(jù)，在低壓區(qū)出現(xiàn)S 型曲線。本文針對這種情況，給出了相應(yīng)的解決方案，不僅羅列出相應(yīng)的注意事項(xiàng)和需要采用的工具，還詳細(xì)的描述了測試文件如何編輯和選擇，并進(jìn)行了舉例說明。