2011年7月19日-7月25日，麥克顆粒表征與技術系列專題研討會分別在中山大學、武漢理工大學、南京大學、浙江大學隆重召開。此次系列研討會吸引眾多學校以及研究所教授約200位專家學者參與了此次大會.

 
     研討會主題為物理吸附與化學吸附的理論與實踐，麥克儀器資深專家Jeff Kenvin博士與Jacek Jagiello博士，報告了物理吸附與化學吸附基本理論，并與實踐經驗相結合，引起與會專家學者和業內同仁們熱烈的反響和討論。