麥克儀器公司（Micromeritics ）是全球領先的用于表征顆粒、粉末和多孔材料的高性能儀器生產商，該公司重點介紹了其全自動Micromeritics TriStar II Plus 3030三站式比表面和孔隙度分析儀。Micromeritics TriStar II Plus 3030利用高級非局部密度泛函理論(NLDFT)模型，使用戶能夠結合從氮氣和二氧化碳等溫線收集的信息，在存在分子尺寸的孔隙的材料(如碳縫孔)上提供完整的孔徑分布。與標準氮氣分析相比，該方法的孔徑分析范圍擴大到低至0.35nm 的微孔分析。使用CO2提供了進入超微孔的途徑，這些超微孔在低溫下由于動力學大小限制、連接性問題或擴散極慢而不能被N2接觸到。

作為三站式氣體吸附儀，TriStar II Plus 3030確保快速而全面的材料分析能力，從而實現快速而高效的質量控制分析。此外，該分析儀還具有滿足研究要求的準確度、分辨率和數據處理能力。Micromeritics公司總裁兼首席執行官Terry Kelly表示：“TriStar II Plus 3030是一款久負盛名的比表面積和孔隙率分析儀，受到學術界和工業市場的高度贊賞，因為它為我們的客戶提供了從添加劑制造、電池和燃料電池到催化劑、納米管或制藥等廣泛應用的最大靈活性，多種分析和數據整理突顯了我們對結構特性提供卓越的分析能力的持續承諾。”

The TriStar II Plus可以使用氮氣、氬氣、二氧化碳和其他例如丁烷、甲烷等非腐蝕性氣體。對于很難表征的包括原料藥、輔料、研磨劑和其他低表面積(<1m2/g)的應用，氪選項可提高這些材料的測量精度。Micromeritics MicroActive數據處理和控制軟件提供了一個簡單易用的界面，可以快速將數據轉換為精確的表面積和孔隙率信息。